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  • 关于平板探测器的主要类型介绍
  • 平板探测器按能量转换方式可分为间接转换平板探测器(FPD)和直接转换平板探测器(FPD)两种类型。
     
    间接转换平板检测器
    间接转换平板探测器由碘化铯、薄膜晶体管、电荷耦合器件或互补金属氧化物半导体等闪烁晶体涂层组成。间接转换平板探测器的工作过程主要有两个步骤:第一,闪烁晶体涂层将x射线能量转换为可见光;第二,TFT或C CD或C MOS将可见光转换为电信号。在此过程中,可见光会发生散射,对空间分辨率有一定的影响。虽然为了提高x射线的利用率和减少散射而将闪烁体加工成柱状,但并不能完全消除散射光对空间分辨率的影响。
     
    直接转换的平板检测器
    直接转换平板探测器主要由非晶硒层组成。入射x射线使硒层产生电子空穴对,在外加偏置电场的作用下,电子空穴对向相反的方向移动以形成电流,从而在薄膜晶体管中形成存储电荷。存储在每个晶体管中的电荷量与入射x射线的剂量相对应。通过读出电路可以知道每个点的电荷量,然后就可以知道每个点的x射线剂量。由于非晶态硒不产生可见光,也不受散射线的影响,所以直接转换的平板检测器可以获得较高的空间分辨率。
     
    在直接转换平板探测器中,x射线到电信号的转换完全取决于非晶硒层产生的电子,DQE水平取决于非晶硒层产生电荷的能力。一般来说,CSI + T ft的极限DQE高于a-Se直接转换平板探测器。
     
    在直接转换平板探测器中,因为没有可见光的产生,也没有出现散射现象,所以该仪器被广泛运用于多种行业。
     
    艾迈斯半导体是传感器解决方案的领先供应商,主要产品包括电容式传感器以及音频放大器、集成电路、接口和相关软件,适用于移动、消费电子、通信、工业、医疗和汽车市场。
     
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